アドバンテスト、多ピン/高速双方対応のDDI/CoF試験フィクスチャを発売

アドバンテスト、多ピン/高速双方対応のDDI/CoF試験フィクスチャを発売

画像提供:マイナビニュース

アドバンテストは7月24日、ディスプレイドライバIC(DDI)用試験装置「T6391」の測定対象を、最新のスマートフォン(スマホ)などに使用されているCoF(Chip-on-Film)実装品の多数個同時測定にまで拡大する、新たなフィクスチャ「RND440 Type3 HIFIX」を発売した。

現在、スマホなどに搭載される中小型ディスプレイドライバICは、従来のCoG(Chip-on-Glass)実装ではなく、有機ELのような曲面化や、画面を最大化したディスプレイに対応したCoF実装に移行しつつあるほか、中小型ディスプレイドライバIC分野では、出力信号の増加、タッチコントローラとディスプレイドライバを1チップ化したTDDI(Touch and Display Driver Integration))が増加しており、テストソリューションもそうしたニーズに変化に対応することが求められている。

同フィクスチャは、そうした多ピン、高速両方に対応したDDIのウェハ試験、CoF試験(テープ試験)を行うことを可能としたもので、CoF実装に含まれるすべての電子部品(テープに実装されたIC、受動素子、データを送受信するための信号入力回路)を試験することができるという。

また、直径440mmのプローブカードに対応しているため多数個同時測定が可能で、従来製品比で約2倍のスループットを実現できるとしている。最大3584chのLCDピン測定に対応しているため、フルHD、WXGA、HD720などの高精細液晶ディスプレイ向けDDIの試験に対応できるほか、標準のT6391に追加オプションを加えることで6.5Gbpsの4K世代DDIへの試験も可能になるという。
(小林行雄)

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